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测量信号源相位噪声
时间：2023-10-20 浏览：225
解决方案总部位于瑞士的 Anapico 生产了 APPH 系列自动信号源分析仪，该分析仪将幅度调制和相位调制测量分开，独立测量极低噪声水平（低于 -180 dBc/Hz），并能够测量有源和无源的附加噪声成分。APPH 分析仪提供高达 30GHz 的测量能力，具有完全集成的互相关系统，可响应相位、幅度和基带噪声测量的常见问题，提供高精度和再现性、快速测量速度、高动态范围以及系统本底噪声低，同时仍然适合实验室和生产环境。
系统架构
APPH 系列的引擎将低噪声模拟接收器通道与先进的数字信号处理技术相结合，提供快速且可重复的噪声测量。基于 FPGA 的专有 FFTcross 分析仪可实时处理 125MSa/s，允许在几秒钟内进行数千次相关和低于 -170dBc/Hz 的测量。LAN或USB控制的APPH系列可以使用PC、笔记本电脑或平板电脑作为控制器，因此无需合并显示器，从而限度地降低产品成本，同时提高可靠性。
校准
将系统封装在紧凑的无风扇机箱中，进一步消除了杂散信号以及接地和电源线环路。另一个非常重要的考虑因素是校准。发货前，每台仪器都根据可追溯的噪声标准进行校准，以保证高精度、一致和可重复的结果。另外，仪器还可以提供校准标准，以便用户随时进行现场性能验证。
测量能力
Anapico 的 APPH 仪器支持的测量包括：使用内部或外部参考的附加或相位噪声测量、幅度噪声测量以及用于评估 RF 信号源的其他自动测量。可轻松对晶体振荡器、PLL 合成器、时钟、锁相 VCO、DRO 等源进行 SSB 相位噪声、幅度噪声、AM 噪声测量、附加或残余噪声表征以及高达 30GHz 的基带噪声测量。
图 2 中所示的相位噪声数据是从低噪声 100 MHz OCXO 基准收集的数据。显示的三个迹线分别是次相关（绿色，12 秒测量时间后）、10 次相关（蓝色，120 秒后）和 100 次相关（红色，20 分钟后）之后的迹线。10 次相关或两分钟后，DUT 的本底噪声就达到 -180 dBc/Hz。对于这种超低噪声测量，使用外部参考源可以更快地获得结果。使用内部参考运行的系统的灵敏度取决于 DUT 的载波频率和频率偏移范围。